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テクニカルトピックス

上が画像処理前、下が画像処理後の信号を3次元化したもの。画像フィルタによって異物を明確にします。

異物検査―その1：画像処理技術

画像処理とエレクトロニクスの高度な技術とノウハウが、
高感度検出や繊細なカスタマイズを可能に。

信号処理を施す前のX線画像には、検査品の形状や性質などに起因するノイズが含まれています。アンリツは独自に研究を重ね、異物の信号だけを正確に取り出す信号処理と画像解析アルゴリズムを多数開発してきました。また、製品のすみずみまでを自社開発し、知り尽くしているため、各部にわたる繊細なチューニングが可能。お客様のご要望にあわせたX線検査ソリューションを提供できるのです。

同時2周波磁界検出方式：FeとSUSの双方が高感度に検出できる2つの周波数で磁界を発生。

異物検査―その2：磁界制御技術

先見の磁界制御。
それを可能にした、エンジニアの飽くなき探究心。

金属検出機は、金属異物がセンサを通過するときに発生する磁界の揺らぎを検知することで、異物を検出します。金属にもさまざまな性質のものがあり、磁界に反応する周波数も異なります。アンリツはこのような特性に早くから着目し、それぞれの金属を高感度で検出する技術を特許として取得。数々の技術的な壁を乗り越え、実用化に成功しました。エンジニアの飽くなき探究心が、成熟した分野に革新をもたらしました。

CADによる、はかりの剛性シミュレーション画像

ダイナミック計量技術

そのはかりに、歴史あり。
高速・高精度を実現した、アンリツのダイナミック計量技術。

ミリグラム単位の精度で毎分600回の質量計測が可能な、アンリツの電磁平衡式はかり。高剛性構造と独自のダイナミックフィルタ技術により、高速・高精度計量を実現しました。緻密な設計や入念なシミュレーションを積み重ね、実験と検証を繰り返す。気の遠くなるようなプロセスを経て、進化を遂げてきました。その小さなはかりの中には、40年以上に渡るアンリツの計量技術がぎっしりと詰め込まれています。

VM計量方式

高性能かつシンプルな構造。
それを実現した、独自のアイデアによる計量方式。

一般的に、高速度な計量機ほど構造が複雑になりやすく、食材に与えるダメージも大きくなります。この問題をクリアしたのが、アンリツのVM計量方式。計量精度を飛躍的に高めると同時にシンプルな構造が可能となり、計量品をやさしく運ぶことのできる画期的な方式です。

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